Walter A. Shewhart

Pełne imię i nazwisko	Walter Andrew Shewhart
Data i miejsce urodzenia	18 marca 1891 New Canton
Data i miejsce śmierci	11 marca 1967 Troy Hills
Zawód, zajęcie	fizyk, inżynier, statystyk
Alma Mater	Uniwersytet Illinois
Multimedia w Wikimedia Commons

Walter Andrew Shewhart (ur. 18 marca 1891 w New Canton, zm. 11 marca 1967 w Troy Hills) – amerykański fizyk, inżynier i statystyk, często nazywany ojcem statystycznej kontroli jakości.

Ukończył studia na Uniwersytecie Illinois, natomiast w 1917 uzyskał tytuł doktora fizyki na Uniwersytecie Kalifornijskim w Berkeley.

W. Edwards Deming powiedział o nim: „Jako statystyk był, podobnie jak wielu z nas, samoukiem, z dobrą wiedzą o fizyce i matematyce.”

Wynalazł najważniejsze narzędzie, jakim posługujemy się dziś w sterowaniu jakością – kartę kontrolną.

• sześć sigma